本書針對絕緣柵雙極晶體管（簡稱IGBT）壽命分布與可靠性分析問題，提出了一種基于雙應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)和K-S檢驗(yàn)的IGBT模塊壽命分布研究方法。該方法首先對IGBT模塊壽命做對數(shù)正態(tài)分布假設(shè)，然后利用Kolmogorov-Smirnov檢驗(yàn)法對一組雙應(yīng)力恒定應(yīng)力IGBT加速壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行Weibull、對數(shù)正態(tài)等分布檢驗(yàn)，進(jìn)而利用加速壽命測試數(shù)據(jù)分析軟件（ALTA）對IGBT加速壽命數(shù)據(jù)進(jìn)行仿真分析，結(jié)果表明，ALTA加速壽命仿真下的IGBT模塊壽命仍服從對數(shù)正態(tài)分布，進(jìn)一步驗(yàn)證了所提假設(shè)的正確性。該方法對IGBT的壽命分布及可靠性分析具有一定的指導(dǎo)意義